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著录信息

  • 专利名称：一种薄片介质厚度异常检测装置及其检测方法
  • 专利类型：发明
  • 申请号：CN201410362146.0
  • 公开(公告)号：CN104123782B
  • 申请日：20140728
  • 公开(公告)日：20170104
  • 申请人：梓昆科技（中国）股份有限公司
  • 发明人：顾梓昆,牟总斌
  • 申请人地址：310052 浙江省杭州市滨江区南环路2788号
  • 申请人区域代码：CN330108
  • 专利权人：梓昆科技（中国）股份有限公司
  • 洛迦诺分类：无
  • IPC：G07D7/164
  • 优先权：无
  • 专利代理机构：杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213
  • 代理人：吴秉中
  • 审查员：谢建军
  • 国际申请：无
  • 国际公开(公告)：无
  • 进入国家日期：无
  • 分案申请：无

关键词

薄片介质,上滚轴,下滚轴,辅助板,检测,异常检测装置,位移传感器,一致性要求,触接配合,弹性配合,检测装置,配合设置,维护方便,移传感器,运行通道,准确率,触接,滚轴,轴承,装配,支票,纸币,彩票
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