闭循环低温探针台功能原理是什么 闭循环低温探针台技术指标有哪些

本文章由注册用户 时代工业园 上传提供 2024-01-17 评论 发布 纠错/删除 版权声明 0
摘要:闭循环低温探针台主要提供一个变温、真空、变磁场的环境,可以配合电压表、电流表、半导体分析仪、激光器、铁电仪等设备使用。典型的应用包括样品在整个温度范围内的IV和CV曲线测试,光电测试,表征变磁环境下的磁输运特性和其他材料的研究。接下来本文将带来闭循环低温探针台功能原理是什么以及闭循环低温探针台技术指标有哪些的介绍,一起来看看吧!

一、闭循环低温探针台功能原理是什么

闭循环低温探针台是用于测试材料物性的设备,主要用于研究材料的电阻、热导率、热电效应等特性。其核心原理是通过制冷系统降低样品的温度,并通过控制反馈系统维持样品温度的稳定。具体的功能原理如下:

1、制冷系统

闭循环低温探针台采用闭环制冷技术,利用制冷剂在压缩膨胀过程中吸收和释放热量,从而使样品温度降低。该制冷系统由制冷机、冷头、冷阱等组成,可以实现极低的温度达到10毫开尔文以下。

2、控制反馈系统

为了实现精准的温度调节,闭循环低温探针台还配备了控制反馈系统。该系统利用控制算法对样品的温度进行监测和调节。具体而言,该系统通过感温电路将样品温度传感器所探测到的信号反馈给控制器,控制器然后通过输出信号调节制冷机流量和电源电压,从而控制系统的温度达到所需的稳定状态。

二、闭循环低温探针台技术指标有哪些

了解了闭循环低温探针台功能原理后,我们再来看看闭循环低温探针台技术指标有哪些吧!

1、温度范围:10K-400K,控温稳定性:优于±100mK。

2、样品垂直于磁场;最高磁场±2.5T。

3、采用闭循环制冷机制冷,不需要消耗液氮或液氦。降温时间6小时。

4、配备5个直流探针臂,1个光纤臂(400nm-2200nm)。

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